Raynald Gauvin, Department of Materials Engineering, Université McGill
Ce séminaire présentera des résultats de caractérisation des matériaux à haute résolution spatiale avec un microscope électronique en balayage à effet de champs de pointe, le SU-8000 de la compagnie Hitachi. Ce microscope à cathode froide possède une résolution de 0.5 nm à 30 keV et de 2 nm à 200 eV avec un courant de sonde maximal de 40 nA. Il possède 2 détecteurs d'électrons secondaires, deux détecteurs d’électrons rétrodiffusés, un détecteur en champs clair STEM, un détecteur rayons-x SDD de 80 mm2 qui à un taux de comptage de 400 000 comptes/s et un détecteur EBSD. L’importance des méthodes de Monte Carlo pour simuler les trajectoires des électrons dans le but de quantifier des analyses rayons-x sera discutée ainsi que les performances de ce microscope en comparaison avec la microscopie électronique en transmission. Des exemples d’applications seront présentés pour la caractérisation d’alliages d’aluminium, de magnésium, de zirconium et des nanomatériaux dont des nanotubes de carbone avec des nano particules de Pt et de Pd/Sn.
Séminaires du RQMP – Versant Nord
